Equipment
Röntgenmikroskop XRM II
Eigenbauanlage auf Basis eines JEOL JSM-7100F REM
Reflexionstarget: nadelförmiges Molybdän oder Wolfram
Detektor: direkt photonenzählender Detektor
Vergrößerung: bis 1000x
Auflösung: unter 100 nm
Rasterelektronenmikroskop
REM Auflösung: 1.2 nm @ 30kV
Vergrößerung: bis 10^6
Beschleunigungsspannung: 30kV
Quelle: Rigaku Microfocus-Quelle mit Drehanode (Leistung: 1,2 kW)
Multilayer: Parabolischer Göbelspiegel für die Cu-Kα-Linie bei 1.54 Å
Kollimatoren: 3 motorisierte Kollimatoren mit je 4 individuell beweglichen Hybrid-Klingen (Einkristalle)
Achsen: je 3-Linearachsen für Detektor- und Probenpositionierung, zusätzlich eine 360°-Rotationsachse für Probendrehbarkeit
Probenumgebungen: Halterung für bis zu 8 feste Proben, Kapillarhalterung für bis zu 10 Kapillaren, Halterung mit Heizung für 1 Kapillare (Temperaturbereich: -5 – 80 °C)
Detektoren: Dectris EIGER 1M (1035 x 1065 Pixel, Pixelgröße: 75 µm)
Experimentelles Röntgenmikroskop auf Basis abbildender Röntgenoptiken
- Hochleistungs-Mikrofokusquelle mit Flüssigmetallanode
- Target aus einer Galliumlegierung
- selbstentwickelter hochauflösender Szintillationsdetektor mit variabler Optik und einem Pixelsampling von 600 nm
- Probensampling bis zu 50 nm
- Bildgebung mit Gallium KA Linie bei 9.2 keV
Kompaktes Computertomographie-System zur Visualisierung kleinster Objekte
- neuartige Nano-Fokus-Quelle mit 60 kV Beschleunigungsspannung
- quellfleckbegrenzte Auflösung bis zu 150 nm
- direkt photonenzählender Detektor
µCT-Anlage für Dienstleistung und Entwicklung neuer CT-Methoden
- Mikro- und ROI-CT
- Laserscanner
- In situ Zug-/Druck Prüfapparat (vorauss. Q3/2019)
- max. Sichtfeld: 27 cm rund (Messfelderweitert)
- schnelle Scans: 30 min, lange Scans: 2-3 Stunden
Röntgenquelle: X-Ray WorX XWT-190-THCE PLUS (20 - 190 kV, 50 W/10 W mit High-Energy/High-Resolution-Target, 2 µm JIMA Resolution)
Detektor: Dexela NDT1512 (14-bit CMOS-Detektor mit Gd2O2S:Tb-Szintillator, 1944 x 1536 Pixel, 74,8 µm Pixel, 115,4 mm x 114,9 mm sensitive Fläche
Auflösung: die höchste erreichbare Auflösung liegt bei 0,6µm, die geringste bei etwa 75µm.
kompate subµ-CT mit flexiblen Komponenten
- umrüstbares System auf Phasenkontrast und Dunkelfeld-CT
- hervorragend geeignet für Materialforschung zur Analyse dreidimensionaler Strukturen